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ZEM15原位掃描電鏡(SEM)

ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍,加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào),搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺,實現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)的原位拉伸/壓縮/彎曲實驗。

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ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍,加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào),搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺,實現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)的原位拉伸/壓縮/彎曲實驗。

電鏡主機特色


鼠標.jpg僅需鼠標即可完成所有操作,無須對中光闌等復雜步驟;

亮度/對比度一鍵自適應,自動/手動聚焦;


視頻模式.jpg抽真空時間小于90秒;

標配光學導航,搭配多樣品臺,實現(xiàn)快速找樣及切換樣品;


采集帶寬.jpg信號采集帶寬10M,掃描速度快;

視頻模式下實時觀察樣品,操作流暢,無卡頓;


多探測器.jpg四分割背散射電子探測器(多種成像模式)、二次電子探測器;

BSE+SE 模式(任意比列混合)、集成EDS元素分析功能;


無憂售后.jpg國內(nèi)生產(chǎn)、銷售、售后一體化服務;

北京、上海、安徽、廣東常駐工程師并提供設備演示;


原位拉伸臺參數(shù)

 

載荷范圍:0-1000N

位移分辨率:20nm

加熱模塊:可選

加載功能:拉伸、壓縮、三點彎曲



品牌:澤攸科技

型號:ZEM15

加速電壓:1-15kV連續(xù)可調(diào)

探測器種類:二次電子探測器、背散射電子探測器、能譜儀

放大倍數(shù):150000x

拉伸臺載荷大小:1000N

加載功能:拉伸、壓縮、彎曲

臺式掃描電鏡產(chǎn)品參數(shù)
環(huán)境要求220V,50Hz,1kW,無需減震臺
加速電壓1kV~15kV連續(xù)可調(diào),1kV步進
電子槍

預對中鎢燈絲,一體式聚光鏡,無需手動調(diào)節(jié)物鏡光

闌(LaB6燈絲可選)

放大倍數(shù)150000倍
探測器二次電子探測器、可推出式背散射探測器、集成式能譜儀
樣品臺XY電動樣品臺(五軸可選)、移動行程:30mmx30mm
樣品尺寸φ50x35(H)mm
高真空模式全自動控制,抽真空時間小于2分鐘
成像模式視頻模式:512x512像素,無需小窗口掃描

快速模式:掃描時間小于3秒,512x512像素

慢掃模式:掃描時間小于40秒,2048x2048像素

圖像格式:BMP,TIFF,JPEG,PNG

導航功能光學CCD導航(非電子圖像導航)
自動功能一鍵自動配置亮度、對比度、聚焦
整機尺寸主機:283*553*505(mm)

機械泵:340*160*140(mm)

拓展功能兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺



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